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徠卡離子束切割儀幾乎適用于任何材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面。使用離子束切割是一項適用于切割硬的，軟的，多孔的，熱敬感的，脆的和/或非均質(zhì)多相復(fù)合型材料，獲得高質(zhì)量切割截面，以適宜于掃描電子顯微鏡(SEl)微區(qū)分析(能譜分析EDS，波譜分析即S，俄歇分析Auger，背散射電子衍射分析EBSD)和原子力顯微鏡(AFl)分析。這一技術(shù)幾乎是一個適用于任何材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面的解決方法。使用該技術(shù)對樣品進(jìn)行處理，樣品受到形變或損傷的可能性低，可暴露出樣品內(nèi)部真實的結(jié)構(gòu)信息。在...
徠卡體視顯微鏡又稱“實體顯微鏡”或“解剖鏡”，在觀察物體時能產(chǎn)生正立的三維空間影像。立體感強(qiáng)，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。操作方便、直觀、檢定效率高，立體顯微鏡適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD的檢定等等，配測量軟件可以測量各種數(shù)據(jù)。一個共用的初級物鏡，對物體成像后的兩光束被兩組中間物鏡一-變焦鏡分開，并成一體視角再經(jīng)各自的目鏡成像。...
徠卡離子減薄儀的薄軸承樣品臺在減薄過程中對離子束無遮擋。觀察系統(tǒng)中做了特殊設(shè)計，無需加裝其它光學(xué)系統(tǒng)，直接監(jiān)視樣品是否穿孔，十分方便，并裝有自動防污染裝置，防止照明及觀察窗被污染。真空系統(tǒng)中裝有防誤操作系統(tǒng)，防止由于誤放氣而損害真空系統(tǒng)。對于透射顯微術(shù)，樣品制備是一個很重要的實驗室環(huán)節(jié)，制備樣品的質(zhì)量起直接影響實驗結(jié)果的重要性。目前基本上有兩種制備透射電鏡薄膜樣品的方法：一是雙噴電解減薄法；這種方法要求所制備的樣品必須是導(dǎo)電材料，而且材料內(nèi)部各相區(qū)之間電化學(xué)勢的差別不能太懸殊...
徠卡生物顯微鏡使用中央遮光板或暗視野聚光器（常用的是拋物面聚光器），使光源的中央光束被阻擋。不能由下而上地通過標(biāo)本進(jìn)入物鏡。從而使光線改變途徑，傾斜地照射在觀察的標(biāo)本上，標(biāo)本遇光發(fā)生反射或散射，散射的光線投入物鏡內(nèi)，因而整個視野是黑暗的。在暗視野中所觀察到的是被檢物體的衍射光圖像，并非物體本身，所以只能看到物體的存在和運(yùn)動，不能辨清物體的細(xì)微結(jié)構(gòu)。但被檢物體為非均質(zhì)時，并大于1/2波長，則各級衍射光線同時進(jìn)入物鏡，在某種程度上可觀察物體的構(gòu)造。一般暗視野顯微鏡雖看不清物體的細(xì)...
徠卡正置顯微鏡是指通過光學(xué)放大，對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征的光學(xué)顯微鏡。通過觀察可以明確材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，也可以幫助用戶了解必要的樣品制備、準(zhǔn)備和取樣方法。也可以反映和表征出構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒(亦包括可能存在的亞晶)、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷(例如位錯)的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。徠卡正置顯微鏡的選擇方法：可以先想想需要看哪些材料。如果只是金屬材料的話，建議還是選用倒置金相顯微鏡，因為倒置金相...
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