徠卡離子減薄儀的薄軸承樣品臺(tái)在減薄過(guò)程中對(duì)離子束無(wú)遮擋。觀察系統(tǒng)中做了特殊設(shè)計(jì)，無(wú)需加裝其它光學(xué)系統(tǒng)，直接監(jiān)視樣品是否穿孔，十分方便，并裝有自動(dòng)防污染裝置，防止照明及觀察窗被污染。真空系統(tǒng)中裝有防誤操作系統(tǒng)，防止由于誤放氣而損害真空系統(tǒng)。
 

　　對(duì)于透射顯微術(shù)，樣品制備是一個(gè)很重要的實(shí)驗(yàn)室環(huán)節(jié)，制備樣品的質(zhì)量起直接影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果的重要性。目前基本上有兩種制備透射電鏡薄膜樣品的方法：一是雙噴電解減薄法；這種方法要求所制備的樣品必須是導(dǎo)電材料，而且材料內(nèi)部各相區(qū)之間電化學(xué)勢(shì)的差別不能太懸殊，否則有的相區(qū)將產(chǎn)生擇優(yōu)腐蝕，限制了透射電子顯微術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域和效能發(fā)揮。
 

　　徠卡離子減薄儀操作注意事項(xiàng)：
 

　　1.必須經(jīng)管理人員同意方可使用；
 

　　2.樣品在離子減薄前要通過(guò)機(jī)械研磨或凹坑，厚度要小于30um。
 

　　3.樣品臺(tái)一定要水平(沿X軸方向)放置到樣品室中。
 

　　4.在離子減薄過(guò)程中，每個(gè)樣品前60%的時(shí)間用10°角，中間20%的時(shí)間用7°角，20%的時(shí)間用4°角。
 

　　5.離子槍每工作1小時(shí)一定要停止15分鐘，如果連續(xù)工作會(huì)燒壞離子槍。
 

　　6.離子束調(diào)節(jié)開關(guān)(lon Beam Modulator)要在Double狀態(tài)，切忌在off狀態(tài)。
 

　　徠卡離子減薄儀適用性廣泛，對(duì)金屬，非金屬，半導(dǎo)體，礦物，骨骼和牙齒等幾乎所有固體材料都可以用離子減薄技術(shù)來(lái)制備透射薄膜樣品。離子轟擊材料各相區(qū)的擇優(yōu)傾向不明顯，一般都可獲厚度較為均勻地薄區(qū)，在電鏡中觀察時(shí)有更廣闊的視野功選擇，也可對(duì)樣品進(jìn)行大角度傾斜以獲得預(yù)期結(jié)果。